データシート
TPS7H1121-SP
- 吸収線量放射線特性評価済み。
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放射線耐性保証 (RHA):100krad(Si) または 50krad(Si)
-
- シングル イベント効果 (SEE) の特性
- シングル イベント ラッチアップ (SEL)、シングル イベント バーンアウト (SEB)、シングル イベント ゲート ラプチャー (SEGR) の線エネルギー付与 (LET) = 75MeV-cm2/mg に対する耐性
- LET = 75MeV-cm2/mg で、シングル イベント機能割り込み (SEFI) 特性評価済み
- LET = 75MeV-cm2/mg でシングル イベント過渡 (SET) 特性評価済み
- ワイド VIN 範囲:2.25V~14V
- 2A の最大出力電流
- 3V を超える VIN の負荷および温度に対する精度:±1.5%
- 3V 未満の VIN の負荷および温度に対する精度:±1.8%
- 外付けコンデンサによるソフトスタート (SS) 制御
- 電源シーケンス用、オープン ドレインのパワー グッド (PG) 出力
- 外付け抵抗 (CL) でプログラム可能な電流制限
- STAB ピンを活用したオプションの外部制御ループ補償が可能
- 非常に優れた負荷 / ライン過渡応答
- ASTM E595 に準拠した脱ガス試験済みのプラスチック パッケージ
- 軍用温度範囲:-55℃~125℃
TPS7H1121は、耐放射線特性をもった低ドロップアウトのリニアレギュレータ (LDO) で、広い入力電圧範囲で動作し、宇宙環境で使用されるデバイスへの電力供給に最適化されています。2.25V~14V の入力に対して、最大 2A の電流を供給できます。
このデバイスは安定性が優れており、広い範囲で調整可能な電流制限機能を搭載しています。FPGA、DSP、マイクロコントローラの複雑な電力要件に対応するため、TPS7H1121 にはイネーブル オンおよびオフ機能、ソフトスタートのプログラム機能、パワー グッドのオープン ドレイン出力が搭載されています。
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技術資料
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評価ボード
TPS7H1121EVM-CVAL — TPS7H1121-SP の評価基板
TPS7H1121EVM-CVAL は、単一の TPS7H1121-SP LDO レギュレータの動作を提示します。この基板は、追加の部品を実装するためのフットプリントを確保しており、カスタマイズ構成のテストに使用できるほか、テスト ポイントと SMA コネクタによる簡単な性能検証が可能です。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
CFP (HFT) | 22 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
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