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SN54SC8T374-SEP

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ロジック レベル シフタを搭載、耐放射線特性、オクタル、D タイプ フリップ フロップ

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製品詳細

Technology family SCxT Number of channels 8 IOH (max) (mA) -25 IOL (max) (mA) 25 Features Over-voltage tolerant inputs Input type TTL/CMOS Output type CMOS Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family SCxT Number of channels 8 IOH (max) (mA) -25 IOL (max) (mA) 25 Features Over-voltage tolerant inputs Input type TTL/CMOS Output type CMOS Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² 6.5 x 6.4
  • VID (Vendor Item Drawing) V62/25627-01XE が利用可能
  • 放射線 - トータル ドーズ効果 (TID)：
    • 50krad(Si) まで吸収線量 (TID) 特性を評価済み
    • 30krad(Si) まで吸収線量 (TID) 性能保証
    • すべてのウェハー ロットについて、30krad(Si) までの放射線ロット受け入れテスト (RLAT)
  • 放射線 - シングル イベント効果 (SEE)：
    • 単一イベント ラッチアップ (SEL) 耐性：125℃で 50MeV-cm2/mg まで
    • シングル イベント過渡 (SET) 特性：LET = 50MeV-cm2/mg (最大値)

  • 幅広い動作範囲：1.2V～5.5V

  • 単一電源電圧レベル シフタ：

    • 昇圧変換：

      • 1.2V～1.8V

      • 1.5V～2.5V

      • 1.8V～3.3V

      • 3.3V～5.0V

    • 降圧変換：

      • 5.0V、3.3V、2.5V から 1.8V
      • 5.0V、3.3V から 2.5V
      • 5.0V～3.3V
  • 5.5V 耐圧入力ピン
  • 標準ピン配置をサポート
  • 5V または 3.3V の VCC で最大 150Mbps
  • JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能
  • 宇宙用強化プラスチック
    • 防衛および航空宇宙アプリケーションをサポート
    • 管理されたベースライン
    • Au ボンド ワイヤと NiPdAu リード仕上げ
    • NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
    • 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
    • 長期にわたる製品ライフ サイクル
    • 製品のトレーサビリティ
  • VID (Vendor Item Drawing) V62/25627-01XE が利用可能
  • 放射線 - トータル ドーズ効果 (TID)：
    • 50krad(Si) まで吸収線量 (TID) 特性を評価済み
    • 30krad(Si) まで吸収線量 (TID) 性能保証
    • すべてのウェハー ロットについて、30krad(Si) までの放射線ロット受け入れテスト (RLAT)
  • 放射線 - シングル イベント効果 (SEE)：
    • 単一イベント ラッチアップ (SEL) 耐性：125℃で 50MeV-cm2/mg まで
    • シングル イベント過渡 (SET) 特性：LET = 50MeV-cm2/mg (最大値)

  • 幅広い動作範囲：1.2V～5.5V

  • 単一電源電圧レベル シフタ：

    • 昇圧変換：

      • 1.2V～1.8V

      • 1.5V～2.5V

      • 1.8V～3.3V

      • 3.3V～5.0V

    • 降圧変換：

      • 5.0V、3.3V、2.5V から 1.8V
      • 5.0V、3.3V から 2.5V
      • 5.0V～3.3V
  • 5.5V 耐圧入力ピン
  • 標準ピン配置をサポート
  • 5V または 3.3V の VCC で最大 150Mbps
  • JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能
  • 宇宙用強化プラスチック
    • 防衛および航空宇宙アプリケーションをサポート
    • 管理されたベースライン
    • Au ボンド ワイヤと NiPdAu リード仕上げ
    • NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
    • 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
    • 長期にわたる製品ライフ サイクル
    • 製品のトレーサビリティ

これらの 8 ビット フリップ フロップは、大きい容量性負荷または比較的低インピーダンス負荷の駆動用に特化して設計された 3 ステート出力を備えています。特に、バッファ レジスタ、I/O ポート、双方向バス ドライバ、作業レジスタの実装に適しています。

これらの 8 ビット フリップ フロップは、大きい容量性負荷または比較的低インピーダンス負荷の駆動用に特化して設計された 3 ステート出力を備えています。特に、バッファ レジスタ、I/O ポート、双方向バス ドライバ、作業レジスタの実装に適しています。
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN54SC8T374-SEP 耐放射線特性、3 ステート出力、オクタル エッジ トリガ D タイプ フリップ フロップ データシート PDF | HTML 英語版 PDF | HTML 2025年 1月 28日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC8T374-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2025年 2月 21日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC8T374-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report 2025年 1月 15日

設計および開発

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パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
TSSOP (PW) 20 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

投稿されたすべてのフォーラムトピック (英語) を表示

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