ホーム ロジックと電圧変換 電圧変換機能と電圧レベル・シフタ 固定方向電圧レベル・シフタ
ホーム
ロジックと電圧変換
電圧変換機能と電圧レベル・シフタ
固定方向電圧レベル・シフタ
新規

SN54SC8T244-SEP

アクティブ

耐放射線特性、3 ステート出力、デュアル 4 ビット、固定方向レベル トランスレーター

ご注文はこちら
データシート

SN54SC8T244-SEP

アクティブ
データシート ご注文はこちら

製品詳細

Technology family LVT Applications GPIO, SPI Bits (#) 8 High input voltage (min) (V) 0.78 High input voltage (max) (V) 5.5 Vout (min) (V) 0 Vout (max) (V) 5.5 Data rate (max) (Mbps) 150 IOH (max) (mA) -24 IOL (max) (mA) 24 Supply current (max) (µA) 220 Features Output enable, Partial power down (Ioff), Vcc isolation Input type Standard CMOS Output type 3-State, Balanced CMOS, Push-Pull Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family LVT Applications GPIO, SPI Bits (#) 8 High input voltage (min) (V) 0.78 High input voltage (max) (V) 5.5 Vout (min) (V) 0 Vout (max) (V) 5.5 Data rate (max) (Mbps) 150 IOH (max) (mA) -24 IOL (max) (mA) 24 Supply current (max) (µA) 220 Features Output enable, Partial power down (Ioff), Vcc isolation Input type Standard CMOS Output type 3-State, Balanced CMOS, Push-Pull Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² 6.5 x 6.4
  • VID (Vendor Item Drawing) V62/25631-01XE が利用可能
  • 放射線－ トータル ドーズ効果 (TID)：
    • 50krad(Si) まで吸収線量 (TID) 特性を評価済み
    • 30krad(Si) まで吸収線量 (TID) 性能保証
    • すべてのウェハー ロットに対する 30krad(Si) までの放射線ロット受け入れテスト (RLAT)
  • 放射線 - シングル イベント効果 (SEE)：
    • 単一イベント ラッチアップ (SEL) 耐性：125℃で 50MeV-cm2/mg まで
    • シングル イベント過渡 (SET) 特性：LET = 50MeV-cm2/mg (最大値)

  • 幅広い動作範囲：1.2V～5.5V

  • 単一電源電圧レベル シフタ：

    • 昇圧変換：

      • 1.2V～1.8V

      • 1.5V～2.5V

      • 1.8V～3.3V

      • 3.3V～5.0V

    • 降圧変換：

      • 5.0V、3.3V、2.5V から 1.8V
      • 5.0V、3.3V から 2.5V
      • 5.0V～3.3V
  • 5.5V 耐圧入力ピン
  • 標準ピン配置をサポート
  • 5V または 3.3V の VCC で最大 150Mbps
  • JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能
  • 宇宙用強化プラスチック
    • 防衛および航空宇宙アプリケーションをサポート
    • 管理されたベースライン
    • Au ボンド ワイヤと NiPdAu リード仕上げ
    • NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
    • 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
    • 長期にわたる製品ライフ サイクル
    • 製品のトレーサビリティ
  • VID (Vendor Item Drawing) V62/25631-01XE が利用可能
  • 放射線－ トータル ドーズ効果 (TID)：
    • 50krad(Si) まで吸収線量 (TID) 特性を評価済み
    • 30krad(Si) まで吸収線量 (TID) 性能保証
    • すべてのウェハー ロットに対する 30krad(Si) までの放射線ロット受け入れテスト (RLAT)
  • 放射線 - シングル イベント効果 (SEE)：
    • 単一イベント ラッチアップ (SEL) 耐性：125℃で 50MeV-cm2/mg まで
    • シングル イベント過渡 (SET) 特性：LET = 50MeV-cm2/mg (最大値)

  • 幅広い動作範囲：1.2V～5.5V

  • 単一電源電圧レベル シフタ：

    • 昇圧変換：

      • 1.2V～1.8V

      • 1.5V～2.5V

      • 1.8V～3.3V

      • 3.3V～5.0V

    • 降圧変換：

      • 5.0V、3.3V、2.5V から 1.8V
      • 5.0V、3.3V から 2.5V
      • 5.0V～3.3V
  • 5.5V 耐圧入力ピン
  • 標準ピン配置をサポート
  • 5V または 3.3V の VCC で最大 150Mbps
  • JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能
  • 宇宙用強化プラスチック
    • 防衛および航空宇宙アプリケーションをサポート
    • 管理されたベースライン
    • Au ボンド ワイヤと NiPdAu リード仕上げ
    • NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
    • 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
    • 長期にわたる製品ライフ サイクル
    • 製品のトレーサビリティ

SN54SC8T244-SEP は、3 ステート出力を備えたオクタル バッファーです。本デバイスは、4 つのドライバを持つ 2 つのバンクに構成されており、各バンクは出力イネーブル ピンで制御されます。

入力は、スレッショルドを低減した回路を使用して設計されており、電源電圧が入力電圧より高い場合の昇圧変換をサポートします。また、5V 許容の入力ピンにより、入力電圧が電源電圧より高い場合の降圧変換が可能です。出力レベルは常に電源電圧 (VCC) を基準としており、1.8V、2.5V、3.3V、5V の CMOS レベルをサポートしています。

SN54SC8T244-SEP は、3 ステート出力を備えたオクタル バッファーです。本デバイスは、4 つのドライバを持つ 2 つのバンクに構成されており、各バンクは出力イネーブル ピンで制御されます。

入力は、スレッショルドを低減した回路を使用して設計されており、電源電圧が入力電圧より高い場合の昇圧変換をサポートします。また、5V 許容の入力ピンにより、入力電圧が電源電圧より高い場合の降圧変換が可能です。出力レベルは常に電源電圧 (VCC) を基準としており、1.8V、2.5V、3.3V、5V の CMOS レベルをサポートしています。
filter その他の 固定方向電圧レベル・シフタ を検索
ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
4 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN54SC8T244-SEP 放射線耐性、オクタル バッファ / ドライバ、 3 ステート出力搭載 データシート PDF | HTML 英語版 PDF | HTML 2025年 1月 28日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC8T244-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2025年 2月 21日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC8T244-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report 2025年 2月 19日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC8T541-SEP Single Event Effects Report PDF | HTML 2025年 1月 16日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
TSSOP (PW) 20 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

投稿されたすべてのフォーラムトピック (英語) を表示

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ