IEC60730SWPACKAGES
C2000 SafeTI™ 60730 SW (ソフトウェア) パッケージ
IEC60730SWPACKAGES
概要
C2000 マイコン SafeTI-60730 ソフトウェア・パッケージには、C2000™ リアルタイム制御マイコン (MCU) を使用してコンシューマ向けの機能安全アプリケーションの設計の簡素化と迅速化を実現する UL 認証済みコンポーネントの SafeTI™ ソフトウェア・パッケージが収録されています。この SafeTI ソフトウェア・パッケージに収録されたソフトウェアは、UL 1998:2008 Class 1 規格に関するレコグナイズド・コンポーネントとして UL 認証済みであり、IEC 60730-1:2010 Class B 規格に準拠しています。いずれの規格も家電製品、アーク検出、パワー・コンバータ、電動工具、電動自転車などの広範な用途を対象としています。SafeTI ソフトウェア・パッケージは、一部の TI C2000 MCU で使用でき、これらの MCU を使用するアプリケーションに組み込むことにより、機能安全規格に準拠するコンシューマ・デバイスの認証取得に役立ちます。2つの規格は類似しているため、IEC 60730 ソフトウェア・ライブラリ は、IEC 60335-1:2010 規格に準拠するコンシューマ・アプリケーションの開発にも有用です。
このソフトウェア・パッケージにはすぐに使用できるシンプルなサンプル・アプリケーションのほか、厳選された TI C2000 マイコン向けの UL 認証済みコンポーネントでもあるソフトウェア・ライブラリが収録されており、サポーティング・セーフティ・マニュアルやユーザー・ガイドとともに、SafeTI ソフトウェア・フォルダからダウンロードすることができます。ソフトウェア・ライブラリはサポーティング・セーフティ・マニュアルに記載された、IEC 60730 や UL 1998 に要求されるさまざまなシステム・テストの組み込みを可能にします。このソフトウェア・ライブラリを設計の際に使用すると、POST (電源投入時自己診断テスト) や PST (定期的な自己診断テスト) の作成方法と、UART ペリフェラル接続経由でのレポート実施方法が分かります。ユーザー・ガイド(英語)では、機能安全に対応したコンシューマ・アプリケーション設計に対するテスト手法を示しています。C2000 マイコンは専用ハードウェア・エレメントである PSA (並列シグネチャ分析) を搭載しています。これにより、サイクル・バイ・サイクル・ベースでのデータ・バスの 40 ビット CRC (巡回冗長検査) を可能にし、メイン CPU やソフトウェア・アプリケーションに影響を及ぼすことなく安全性を向上します。
RD-195 ソフトウェア・パッケージは UL 認証済みコンポーネントである TI の包括的な UL 1998:2008 Class 1 標準ライブラリを使用しているほか、TI の Arc Detection (アーク検出) ライブラリも収録しており、UL1699B に対応するアプリケーションを実装します。ソフトウェア・ライブラリは、リモート構成やステータス情報向けの RS232 インターフェイスを提供します。RD-195 パッケージはカスタム化したアーク検出システムの実装にも使用できます。
機能
- 以下の C2000 シリーズをサポート
- Delfino F2833x
- Piccolo F2802x、F2803x、F2805x、F2806x
- Delfino F2837x と Piccolo F2807x のサポートは、SafeTI Diagnostics Libraryに含まれています。
- IEC60730 ソフトウェア・ライブラリ、ユーザーズ・ガイド、サンプル・コード
- Piccolo マイコン向けの Arcdetect(アーク検出)ソフトウェア・ライブラリ、ユーザーズ・ガイド、RD195 の回路図とサンプル・コード
- C2000 MCU セーフティー・マニュアル、IEC60730 用
- IEC60730 SW (ソフトウェア) ライブラリ
ダウンロード
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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アプリケーション・ノート | C2000™ Hardware Built-In Self-Test (Rev. A) | PDF | HTML | 2022年 9月 28日 | |||
アプリケーション・ノート | Error Detection in SRAM (Rev. A) | PDF | HTML | 2020年 10月 28日 | |||
アプリケーション・ノート | C2000 CPU Memory Built-In Self-Test | 2017年 11月 27日 |