データシート
TPD4EUSB30
- USB 3.0 のデータ・レート (5Gbps) をサポート
- IEC 61000-4-2 ESD 保護 (レベル 4 接触)
- IEC 61000-4-5 サージ保護
- 5A (8/20µs)
- 低キャパシタンス
- DRT:0.7pF (標準値)
- DQA:0.8pF (標準値)
- 動的抵抗:0.6Ω (標準値)
- コンパクトな DRT、DQA パッケージ
- フロースルー・ピン配置
TPD2EUSB30、TPD2EUSB30A、TPD4EUSB30 は、2 および 4 チャネルの過渡電圧サプレッサ (TVS) を使用した静電気放電 (ESD) 保護ダイオード・アレイです。TPDxEUSB30/A デバイスは、IEC 61000-4-2 国際規格 (接触) で規定されている最大レベルの ESD 耐性を備えています。これらのデバイスは、IEC 61000-4-5 (サージ) 仕様に基づく 5A (8/20µs) のピーク・パルス電流定格も持っています。
TPD2EUSB30A は、4.5V の低い DC ブレークダウン電圧を持っています。その低い静電容量、低いブレークダウン電圧、低い動的抵抗により、TPD2EUSB30A は高速差動 IO に適した優れた保護デバイスと言えます。
TPD2EUSB30 と TPD2EUSB30A は、コンパクトな DRT (1mm × 1mm) パッケージで供給されます。TPD4EUSB30 は、コンパクトな DQA (2.5mm × 1.0mm) パッケージで供給されます。
技術資料
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5 をすべて表示 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | TPDxEUSB30 2、4 チャネル ESD 保護、Super-Speed USB 3.0 インターフェイス用 データシート (Rev. G 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.G) | PDF | HTML | 2021年 7月 13日 |
ユーザー・ガイド | Reading and Understanding an ESD Protection Data Sheet (Rev. A) | PDF | HTML | 2023年 9月 19日 | |||
アプリケーション・ノート | ESD Protection Layout Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2022年 4月 7日 | |||
ホワイト・ペーパー | Designing USB for short-to-battery tolerance in automotive environments | 2016年 2月 10日 | ||||
Analog Design Journal | Design Considerations for System-Level ESD Circuit Protection | 2012年 9月 25日 |
設計および開発
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評価ボード
ESDEVM — ESD の評価基板
静電気敏感性デバイス (ESD) の評価基板 (EVM) は、TI の ESD 製品ラインアップのほとんどに対応する開発プラットフォームです。この基板には、任意の数のデバイスをテストできるように、従来型の ESD フットプリントがすべて実装されています。デバイスは、適切なフットプリントに半田付けしてからテストすることができます。標準的な高速 ESD ダイオードの場合、インピーダンス制御されたレイアウトを実装することで、S パラメータを受け入れ、基板パターンの埋め込みを解除します。高速ではない ESD ダイオードの場合、テスト (...)
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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USON (DQA) | 10 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。