TLV3701-EP
- Controlled Baseline
- One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
- Extended Temperature Performance of –40°C to 125°C
- Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
- Enhanced Product-Change Notification
- Qualification Pedigree
- Low Supply Current . . . 560 nA
- Input Common-Mode Range Exceeds the Rails . . . –0.1 V to VCC + 5 V
- Supply Voltage Range . . . 2.7 V to 16 V
- Reverse Battery Protection Up to 18 V
- Push-Pull CMOS Output Stage
- Ultrasmall Packaging
- 5-Pin SOT-23
- Universal Op-Amp EVM (Reference SLOU060 for more information)
- APPLICATIONS
- Portable Battery Monitoring
- Security Detection Systems
Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
The TLV3701 is part of Texas Instruments first family of nanopower comparator with only 560 nA supply current, which make this device ideal for low power applications.
The TLV3701 has a minimum operating supply voltage of 2.7 V over the extended temperature range TA = 40°C to 125°C, while having an input common-mode range of 0.1 to VCC + 5 V. The low supply current makes it an ideal choice for battery powered portable applications where quiescent current is the primary concern. Reverse battery protection guards the amplifier from an over-current condition due to improper battery installation. For harsh environments, the inputs can be taken 5 V above the positive supply rail without damage to the device. This device is available in the small SOT-23 package. Other package options may be made available upon request.
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
---|---|---|---|---|---|---|
* | データシート | TLV3701-EP: Nanopower Push-Pull Output Comparator データシート | 2003年 5月 30日 | |||
* | VID | TLV3701-EP VID V6204726 | 2016年 6月 21日 | |||
e-Book(PDF) | The Signal - オペアンプ設計ブログ集 | 英語版 | 2018年 3月 23日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
AMP-PDK-EVM — アンプ パフォーマンス開発キットの評価基板
このアンプ パフォーマンス開発キット (PDK) は、オペアンプの一般的なパラメータをテストするための評価基板 (EVM) キットであり、ほとんどのオペアンプやコンパレータと互換性があります。この評価基板キットは、パッケージのニーズに適した、さまざまなソケット付きドーターカード オプションを搭載したメイン ボードで構成されており、エンジニアはデバイスの性能を迅速に評価および検証できます。
AMP-PDK-EVM キットは、業界標準の最も一般的な次の 5 種類のパッケージをサポートしています。
- D (SOIC-8 と SOIC-14)
- PW (TSSOP-14)
- DGK (VSSOP-8)
- (...)
PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
TINA-TI — SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム
TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)
TINA は DesignSoft (...)
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
SOT-23 (DBV) | 5 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。