SN55HVD233-SP
- QMLV (QML Class V)放射線耐性保証(RHA) MIL-PRF 38535認定済み、SMD 5962L1420901VXC
- 単一イベント・ラッチアップ(SEL)耐性: 125℃で86MeV-cm2/mgまで
- 低線量率における総照射線量(TID)耐性: 50kRad (Si)
- 軍事用温度範囲(-55℃~125℃)全体で認定済み
- 高性能8ピン・セラミック・フラット・パック(HKX)
- ISO 11898-2準拠
- バス・ピンのフォルト保護: ±16V超
- バス・ピンのESD保護: ±16kV超、HBM
- データレート: 最大1Mbps
- 広い同相電圧範囲: -7V~12V
- 高い入力インピーダンスにより120ノードが可能
- LVTTL I/Oは5V許容
- ドライバ出力電圧の遷移時間制御による信号品質の向上
- 電力オフのノードはバスに不干渉
- 低電流のスタンバイ・モード: 200µA (標準値)
- 診断用ループバック機能
- サーマル・シャットダウン保護機能
- グリッチ・フリーのバス入力および出力による電源オンおよびオフ
- 高い入力インピーダンスと低いVCC
- 電源サイクル中のモノリシック出力
SN55HVD233-SPは、ISO 11898規格に準拠したコントローラ・エリア・ネットワーク(CAN)シリアル通信物理層を採用する航空宇宙アプリケーションに適しています。このCANトランシーバは、最大1Mbpsの信号速度で、差動CANバスとCANコントローラの間の送受信を実行する機能を備えています。
SN55HVD233-SPは、特に厳しい放射線環境向けに設計されているため、±16Vまでのクロスワイヤ保護、過電圧保護、および接地損失保護といった機能のほか、過熱(サーマル・シャットダウン)保護機能も搭載しています。また、-7V~12Vの広い同相電圧範囲で動作します。このトランシーバは、マイクロプロセッサ、FPGA、またはASIC上のホストCANコントローラと、衛星アプリケーションで使用される差動CANバスとの間のインターフェイスになります。
モード: SN55HVD233-SPのRS (ピン8)を使用して、高速、勾配制御、および低消費電力スタンバイ・モードの3つの動作モードを選択できます。ピン8を直接グランドに接続して高速モードの動作を選択すると、立ち上がり/立ち下がり勾配の制限なしに、ドライバ出力トランジスタが可能な限り高速にオン/オフのスイッチングを実行できます。立ち上がり/立ち下がり勾配はピンの出力電流に比例するため、この勾配はピン8とグランドの間に抵抗を接続することにより調整できます。抵抗値0Ωで勾配制御を実装した場合、シングルエンド・スルーレートは約38V/µsとなり、抵抗値50kΩであればスルーレートは約4V/µsとなります。勾配制御の詳細については、アプリケーションと実装セクションを参照してください。
SN55HVD233-SPは、ピン8にHIGHレベルが印加されると、低電流のスタンバイ(リッスンのみ)モードへ移行し、このモードでは、ドライバのスイッチがオフになり、レシーバはアクティブのまま保持されます。ローカル・プロトコル・コントローラがバスへメッセージを送信する必要がある場合は、この低電流スタンバイ・モードを元に戻す必要があります。ループバック・モードの詳細については、アプリケーション情報セクションを参照してください。
ループバック: SN55HVD233-SPのループバックLBKピン5がHIGHになると、バス出力とバス入力が高インピーダンス状態になります。残りの回路はアクティブに維持され、ドライバからレシーバへのループバックに利用可能なため、バスに干渉することなく自己診断ノード機能に使用できます。
CANバスの状態: デバイスの通電動作中、CANバスにはドミナントとリセッシブという2つの状態があります。ドミナント・バス状態とは、バスが差動で駆動される場合をいい、DおよびRピンがLOWになります。リセッシブ・バス状態とは、バスがVCC/2に、レシーバの高抵抗の内部入力抵抗RINによりバイアスされる場合をいい、DおよびRピンがHIGHになります(バスの状態(物理的ビット表現)およびリセッシブ同相バイアスとレシーバの概略図を参照)。
サンプル供給
エンジニアリング モデルのサンプルが入手可能です (HVD233HKX/EM)。 ご請求
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
---|---|---|---|---|---|---|
* | 放射線と信頼性レポート | Single-Event Effects Test Report of the HVD233-SP CAN Bus Transceivers | 2018年 3月 20日 | |||
* | 放射線と信頼性レポート | SN55HVD233-SP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report | 2018年 2月 5日 | |||
* | データシート | SN55HVD233-SP 3.3V放射線耐性強化CANトランシーバ データシート (Rev. A 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2018年 1月 23日 |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点