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SN54SC8T151-SEP

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ロジック レベル シフタ搭載、耐放射線特性、8 ライン入力 1 ライン出力、データセレクタ / マルチプレクサ

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SN54SC8T151-SEP

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製品詳細

Operating temperature range (°C) to Rating Space
Operating temperature range (°C) to Rating Space
TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4
  • VID (Vendor Item Drawing) V62/25634-01XE が利用可能
  • 放射線 - トータル ドーズ効果 (TID)：
    • 50krad(Si) まで吸収線量 (TID) 特性を評価済み
    • 30krad(Si) まで吸収線量 (TID) 性能保証
    • すべてのウェハー ロットについて、30krad(Si) までの放射線ロット受け入れテスト (RLAT)
  • 放射線 - シングル イベント効果 (SEE)：
    • 単一イベント ラッチアップ (SEL) 耐性：125℃で 50MeV-cm2/mg まで
    • シングル イベント過渡 (SET) 特性：LET = 50MeV-cm2/mg (最大値)

  • 幅広い動作範囲：1.2V～5.5V

  • 単一電源電圧レベル シフタ：

    • 昇圧変換：

      • 1.2V～1.8V

      • 1.5V～2.5V

      • 1.8V～3.3V

      • 3.3V～5.0V

    • 降圧変換：

      • 5.0V、3.3V、2.5V から 1.8V
      • 5.0V、3.3V から 2.5V
      • 5.0V～3.3V
  • 5.5V 耐圧入力ピン
  • 標準ピン配置をサポート
  • 5V または 3.3V の VCC で最大 150Mbps
  • JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能
  • 宇宙用強化プラスチック
    • 防衛および航空宇宙アプリケーションをサポート
    • 管理されたベースライン
    • Au ボンド ワイヤと NiPdAu リード仕上げ
    • NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
    • 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
    • 長期にわたる製品ライフ サイクル
    • 製品のトレーサビリティ
  • VID (Vendor Item Drawing) V62/25634-01XE が利用可能
  • 放射線 - トータル ドーズ効果 (TID)：
    • 50krad(Si) まで吸収線量 (TID) 特性を評価済み
    • 30krad(Si) まで吸収線量 (TID) 性能保証
    • すべてのウェハー ロットについて、30krad(Si) までの放射線ロット受け入れテスト (RLAT)
  • 放射線 - シングル イベント効果 (SEE)：
    • 単一イベント ラッチアップ (SEL) 耐性：125℃で 50MeV-cm2/mg まで
    • シングル イベント過渡 (SET) 特性：LET = 50MeV-cm2/mg (最大値)

  • 幅広い動作範囲：1.2V～5.5V

  • 単一電源電圧レベル シフタ：

    • 昇圧変換：

      • 1.2V～1.8V

      • 1.5V～2.5V

      • 1.8V～3.3V

      • 3.3V～5.0V

    • 降圧変換：

      • 5.0V、3.3V、2.5V から 1.8V
      • 5.0V、3.3V から 2.5V
      • 5.0V～3.3V
  • 5.5V 耐圧入力ピン
  • 標準ピン配置をサポート
  • 5V または 3.3V の VCC で最大 150Mbps
  • JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能
  • 宇宙用強化プラスチック
    • 防衛および航空宇宙アプリケーションをサポート
    • 管理されたベースライン
    • Au ボンド ワイヤと NiPdAu リード仕上げ
    • NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
    • 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
    • 長期にわたる製品ライフ サイクル
    • 製品のトレーサビリティ

この SN54SC8T151-SEP データ セレクタ/マルチプレクサは、8 つのデータソースのいずれかを選択してフル バイナリ デコードを行います。入力を有効化するには、ストローブ (G) 入力を LOW ロジック レベルにする必要があります。ストローブ端子に HIGH レベルを印加すると、標準出力 (Y) は LOW に、反転出力 (W) は HIGH に強制されます。

この SN54SC8T151-SEP データ セレクタ/マルチプレクサは、8 つのデータソースのいずれかを選択してフル バイナリ デコードを行います。入力を有効化するには、ストローブ (G) 入力を LOW ロジック レベルにする必要があります。ストローブ端子に HIGH レベルを印加すると、標準出力 (Y) は LOW に、反転出力 (W) は HIGH に強制されます。
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN54SC8T151-SEP 耐放射線特性、8 ライン入力 1 ライン出力、データ セレクタ / マルチプレクサ データシート PDF | HTML 英語版 PDF | HTML 2025年 2月 3日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC8T138-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report PDF | HTML 2025年 2月 20日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC8T151-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2025年 2月 20日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC8T151-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report 2025年 2月 19日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
評価ボード

14-24-NL-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンのリードなしパッケージ向け、ロジック製品の汎用評価基板

14-24-NL-LOGIC-EVM は、14 ピンから24 ピンの BQA、BQB、RGY、RSV、RJW、RHL の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスや変換デバイスをサポートする設計を採用したフレキシブルな評価基板 (EVM) です。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
TSSOP (PW) 16 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

投稿されたすべてのフォーラムトピック (英語) を表示

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

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