データシート
SN54SC8T139-SEP
- VID (Vendor Item Drawing) V62/25623-01XE が利用可能
- 放射線 - トータル ドーズ効果 (TID):
- 50krad(Si) まで吸収線量 (TID) 特性を評価済み
- 30krad(Si) まで吸収線量 (TID) 性能保証
- すべてのウェハー ロットについて、30krad(Si) までの放射線ロット受け入れテスト (RLAT)
- 放射線 - シングル イベント効果 (SEE):
- 単一イベント ラッチアップ (SEL) 耐性:125℃で 50MeV-cm2/mg まで
- シングル イベント過渡 (SET) 特性:LET = 50MeV-cm2/mg (最大値)
-
幅広い動作範囲:1.2V~5.5V
-
単一電源電圧レベル シフタ:
-
昇圧変換:
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1.2V~1.8V
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1.5V~2.5V
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1.8V~3.3V
-
3.3V~5.0V
-
-
降圧変換:
- 5.0V、3.3V、2.5V から 1.8V
- 5.0V、3.3V から 2.5V
- 5.0V~3.3V
-
- 5.5V 耐圧入力ピン
- 標準ピン配置をサポート
- 5V または 3.3V の VCC で最大 150Mbps
- JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能
- 宇宙用強化プラスチック
- 防衛および航空宇宙アプリケーションをサポート
- 管理されたベースライン
- Au ボンド ワイヤと NiPdAu リード仕上げ
- NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
- 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
- 長期にわたる製品ライフ サイクル
- 製品のトレーサビリティ
SN54SC8T139-SEP は、1 個のアクティブ LOW 出力ストローブ G が付いた 2~4 個のデコーダを内蔵しています。1 つのチャネルの出力をストローブ入力でゲートすると、その出力がすべて強制的に HIGH 状態になります。ストローブ入力により出力が無効化されている場合以外は、選択された出力のみが LOW であり、その他のすべての出力は HIGH です。
技術資料
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4 をすべて表示 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | SN54SC8T139-SEP 、耐放射線特性、デュアル、2:4 ビット、デコーダ / デマルチプレクサ データシート | PDF | HTML | 英語版 | PDF | HTML | 2025年 1月 28日 |
* | 放射線と信頼性レポート | SN54SC8T139-SEP Production Flow and Reliability Report | PDF | HTML | 2025年 2月 21日 | ||
* | 放射線と信頼性レポート | SN54SC8T138-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report | PDF | HTML | 2025年 2月 20日 | ||
* | 放射線と信頼性レポート | SN54SC8T139-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report | 2025年 2月 18日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
評価ボード
14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
評価ボード
14-24-NL-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンのリードなしパッケージ向け、ロジック製品の汎用評価基板
14-24-NL-LOGIC-EVM は、14 ピンから24 ピンの BQA、BQB、RGY、RSV、RJW、RHL の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスや変換デバイスをサポートする設計を採用したフレキシブルな評価基板 (EVM) です。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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TSSOP (PW) | 16 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点