ホーム スイッチ / マルチプレクサ デジタル・デマルチプレクサ / デコーダ
ホーム
スイッチ / マルチプレクサ
デジタル・デマルチプレクサ / デコーダ
新規

SN54SC8T138-SEP

アクティブ

耐放射線特性、3 ライン入力 8 ライン出力、デコーダ / デマルチプレクサ

ご注文はこちら
データシート

SN54SC8T138-SEP

アクティブ
データシート ご注文はこちら

製品詳細

Technology family SCxT Number of channels 8 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space
Technology family SCxT Number of channels 8 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space
TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4
  • Vendor item drawing available, VID V62/25622-01XE
  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
    • TID characterized up to 50 krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30 krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30 krad(Si)
  • Radiation - Single-Event Effects (SEE):
    • Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50 MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50 MeV-cm2/mg

  • Wide operating range of 1.2V to 5.5V

  • Single-supply voltage translator:

    • Up translation:

      • 1.2V to 1.8V

      • 1.5V to 2.5V

      • 1.8V to 3.3V

      • 3.3V to 5.0V

    • Down translation:

      • 5.0V, 3.3V, 2.5V to 1.8V
      • 5.0V, 3.3V to 2.5V
      • 5.0V to 3.3V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic:
    • Supports defense and aerospace applications
    • Controlled baseline
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
  • Vendor item drawing available, VID V62/25622-01XE
  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
    • TID characterized up to 50 krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30 krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30 krad(Si)
  • Radiation - Single-Event Effects (SEE):
    • Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50 MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50 MeV-cm2/mg

  • Wide operating range of 1.2V to 5.5V

  • Single-supply voltage translator:

    • Up translation:

      • 1.2V to 1.8V

      • 1.5V to 2.5V

      • 1.8V to 3.3V

      • 3.3V to 5.0V

    • Down translation:

      • 5.0V, 3.3V, 2.5V to 1.8V
      • 5.0V, 3.3V to 2.5V
      • 5.0V to 3.3V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic:
    • Supports defense and aerospace applications
    • Controlled baseline
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability

The SN54SC8T138-SEP is a three to eight decoder with one standard output strobe (G2) and two active low output strobes (G1 and G0). When the outputs are gated by any of the strobe inputs, they are all forced into the high state. When the outputs are not disabled by the strobe inputs, only the selected output is low while all others are high. The output level is referenced to the supply voltage (VCC) and supports 1.8V, 2.5V, 3.3V, and 5V CMOS levels.

The input is designed with a lower threshold circuit to support up translation for lower voltage CMOS inputs (for example, 1.2V input to 1.8V output or 1.8V input to 3.3V output). In addition, the 5V tolerant input pins enable down translation (for example, 3.3V to 2.5V output).

The SN54SC8T138-SEP is a three to eight decoder with one standard output strobe (G2) and two active low output strobes (G1 and G0). When the outputs are gated by any of the strobe inputs, they are all forced into the high state. When the outputs are not disabled by the strobe inputs, only the selected output is low while all others are high. The output level is referenced to the supply voltage (VCC) and supports 1.8V, 2.5V, 3.3V, and 5V CMOS levels.

The input is designed with a lower threshold circuit to support up translation for lower voltage CMOS inputs (for example, 1.2V input to 1.8V output or 1.8V input to 3.3V output). In addition, the 5V tolerant input pins enable down translation (for example, 3.3V to 2.5V output).
filter その他の デジタル・デマルチプレクサ / デコーダ を検索
ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
5 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN54SC8T138-SEP Radiation Tolerant, 3-line to 8-line Decoder/Demultiplexer With Logic Level Shifter データシート (Rev. A) PDF | HTML 2025年 1月 28日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC8T138-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2025年 2月 20日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC8T138-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report PDF | HTML 2025年 2月 20日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC8T138-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report 2025年 2月 18日
アプリケーション概要 TI Space Enhanced Plastic Logic Overview and Applications in Low-Earth Orbit Satellite Platforms PDF | HTML 2024年 9月 10日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
評価ボード

14-24-NL-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンのリードなしパッケージ向け、ロジック製品の汎用評価基板

14-24-NL-LOGIC-EVM は、14 ピンから24 ピンの BQA、BQB、RGY、RSV、RJW、RHL の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスや変換デバイスをサポートする設計を採用したフレキシブルな評価基板 (EVM) です。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
TSSOP (PW) 16 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

投稿されたすべてのフォーラムトピック (英語) を表示

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ